本文從六個(gè)方面闡述了分光光度計(jì)檢定結(jié)果的影響因素,包括標(biāo)準(zhǔn)器的選擇、波長(zhǎng)示值誤差和重 復(fù)性項(xiàng)目波長(zhǎng)檢定點(diǎn)的選擇、儀器的光譜帶寬、透射比示值誤差和重復(fù)性項(xiàng)目波長(zhǎng)檢定點(diǎn)的選擇、標(biāo)準(zhǔn)石英吸 收池的配套性、濾光片的狀態(tài)。檢定員只有重視這六個(gè)方面的檢定細(xì)節(jié),才能保證檢定結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。
分光光度計(jì)在各行各業(yè)都有著廣泛的應(yīng)用,是眾 多產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)的重要計(jì)量器具,其量值的準(zhǔn)確可靠 對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響深遠(yuǎn)。分光光度計(jì)的檢定依據(jù)的是 JJG178-2007《紫外、可見、近紅外分光光度計(jì)》,主要 檢定項(xiàng)目有波長(zhǎng)示值誤差與重復(fù)性、透射比示值誤差
與重復(fù)性、光譜帶寬、吸收池配套性等。使用到的標(biāo) 準(zhǔn)器主要有波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、透射比標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、標(biāo)準(zhǔn)石 英吸收池等。本文結(jié)合實(shí)際工作經(jīng)驗(yàn),總結(jié)出影響分 光光度計(jì)檢定結(jié)果的主要因素,期望對(duì)檢定人員的工 作有所幫助。
分光光度計(jì)檢定結(jié)果的影響因素主要包括六個(gè) 方面,分別是標(biāo)準(zhǔn)器的選擇、波長(zhǎng)示值誤差和重復(fù)性 項(xiàng)目波長(zhǎng)檢定點(diǎn)的選擇、儀器的光譜帶寬、透射比示 值誤差和重復(fù)性項(xiàng)目波長(zhǎng)檢定點(diǎn)的選擇、標(biāo)準(zhǔn)石英吸 收池的配套性、濾光片的狀態(tài)。
1 標(biāo)準(zhǔn)器的選擇 JJG178-2007中列舉了用到的9種波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)物 質(zhì)的波長(zhǎng)示值誤差及重復(fù)性項(xiàng)目,并對(duì)它們適用的波 段進(jìn)行了規(guī)定。這里特別要注意“標(biāo)準(zhǔn)干涉濾光片”。 它不適用于檢定Ⅰ級(jí)和Ⅱ級(jí)分光光度計(jì)。這主要是 因?yàn)楦缮鏋V光片的波長(zhǎng)定值不確定度比較大,一般在 0.4~0.9nm,已經(jīng)接近或超過(guò)Ⅰ級(jí)和Ⅱ級(jí)的技術(shù)指標(biāo)。 即便如此,檢定中也要注意干涉濾光片證書中提供的 定值不確定度是否足夠滿足Ⅲ級(jí)分光光度計(jì)的檢定 要求。
2 波長(zhǎng)示值誤差和重復(fù)性項(xiàng)目波長(zhǎng)檢定 點(diǎn)的選擇 JJG178-2007規(guī)定,檢定分光光度計(jì)A、 B段波長(zhǎng) 示值誤差和重復(fù)性,每間隔100nm至少選擇一個(gè)波長(zhǎng) 檢定點(diǎn)。各計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)一般選擇使用氧化鈥濾光 片和鐠釹濾光片作為標(biāo)準(zhǔn)器。因其易于保存,使用方 便,而且吸收峰的數(shù)量多。但是并非所有的吸收峰都 適用于各級(jí)分光光度計(jì)的檢定。氧化鈥濾光片和鐠 釹濾光片是按JJG1034-2008《光譜光度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)濾光 器》進(jìn)行檢定的,此規(guī)程根據(jù)吸收峰的峰高、尖銳程 度、對(duì)稱性、年變化量的不同定義了一級(jí)峰和二級(jí)峰。 峰高越高、越尖銳、對(duì)稱性越好、年變化量越小,其定 值不確定度就越小。對(duì)于達(dá)不到一級(jí)峰和二級(jí)峰標(biāo) 準(zhǔn)的吸收峰,一般計(jì)量部門都會(huì)將其作為“參考峰”列 出。但應(yīng)該注意的是,因“參考峰”的峰形差、年變化 量大,應(yīng)盡量避免選擇其作為波長(zhǎng)檢定點(diǎn)。
3 儀器光譜帶寬的影響
儀器的光譜帶寬,指的是從單色器射出的單色光 譜線強(qiáng)度輪廓曲線的二分之一高度處的譜帶寬度。 用來(lái)表征儀器的光譜分辨率。對(duì)于同一臺(tái)儀器,光譜 帶寬越大,測(cè)量光束能量越強(qiáng),儀器數(shù)值越穩(wěn)定,反 之,儀器數(shù)值越不穩(wěn)定。高等級(jí)的分光光度計(jì)通常可 以自由設(shè)置不同的光譜帶寬。但是一些低等級(jí)的儀 器往往只能固定某個(gè)光譜帶寬。而且為了降低成本 的同時(shí)追求數(shù)值的穩(wěn)定,往往選用更大的光譜帶寬。 檢定分光光度計(jì)時(shí),儀器的光譜帶寬應(yīng)與所使用 標(biāo)準(zhǔn)器定值時(shí)的光譜帶寬保持一致,否則將對(duì)波長(zhǎng)示 值誤差的檢定結(jié)果造成影響,對(duì)于固定帶寬的分光光 度計(jì)更要特別注意這點(diǎn)。但是目前氧化鈥濾光片和 鐠釹濾光片的檢定部門通常只提供2nm帶寬下的檢 定結(jié)果。并不適用于市面上的固定5nm帶寬(或其它 更大帶寬)儀器的檢定。此時(shí),應(yīng)向?yàn)V光片的檢定部 門要求提供不同帶寬下的濾光片檢定結(jié)果。對(duì)于不 同帶寬下濾光片的峰值波長(zhǎng)檢定結(jié)果的差異的比較 見表1。 從表1中可以看出, 2nm帶寬與5nm帶寬下的峰 值波長(zhǎng)大相差2.54nm,已經(jīng)超過(guò)了Ⅱ級(jí)分光光度 計(jì)的波長(zhǎng)允差1.0nm。如果不使用儀器對(duì)應(yīng)帶寬下 的標(biāo)準(zhǔn)峰值波長(zhǎng)數(shù)據(jù),將對(duì)檢定結(jié)果造成嚴(yán)重影響, 甚至影響儀器級(jí)別判定。
4 透射比示值誤差和重復(fù)性項(xiàng)目波長(zhǎng)檢 定點(diǎn)的選擇 JJG178-2007規(guī)定,分光光度計(jì)透射比示值誤差 和重復(fù)性的檢定,在紫外區(qū)可以使用紫外透射比標(biāo)準(zhǔn) 溶液在235nm、257nm、313nm、350nm處檢定,或使用 紫外區(qū)透射比濾光片檢定;在可見區(qū)可以使用光譜中 性濾光片在440nm、546nm、635nm處檢定。 但是JJG1034-2008對(duì)紫外透射比濾光片和光譜中性濾光片的檢定卻規(guī)定了254nm、300nm、340nm、 365nm、436nm、465nm、546nm、590nm、635nm這幾個(gè) 檢定點(diǎn)。雖然JJG1034-2008中也指出可以按“客戶 特殊要求的測(cè)量波長(zhǎng)”,但是實(shí)際中發(fā)現(xiàn)有些濾光片 的檢定部門只按JJG1034-2008的波長(zhǎng)點(diǎn)檢定,而沒(méi) 有按JJG178-2007的波長(zhǎng)點(diǎn)檢定,造成濾光片的檢定 與使用相脫節(jié)。這種現(xiàn)象應(yīng)當(dāng)引起檢定規(guī)程編制者 的注意。況下,還是應(yīng)當(dāng)要求濾光片的檢定部 門按使用波長(zhǎng)點(diǎn)進(jìn)行檢定,并提供不同光譜帶寬下的 檢定結(jié)果。
5 標(biāo)準(zhǔn)石英吸收池配套性的影響 JJG178-2007規(guī)定,可以用紫外標(biāo)準(zhǔn)溶液檢定分 光光度計(jì)紫外區(qū)透射比示值誤差和重復(fù)性,這就需要 使用到標(biāo)準(zhǔn)石英吸收池。JJG178-2007還規(guī)定了配 套的標(biāo)準(zhǔn)石英吸收池透射比配套誤差不大于0.2%。 但是在日常檢定工作中,由于需要經(jīng)常清洗擦 拭,標(biāo)準(zhǔn)吸收池的透射比配套性往往不能一直保持不 大于0.2%的良好狀態(tài)。這就要求經(jīng)常檢定標(biāo)準(zhǔn)石英 吸收池的配套性是否符合要求,以免對(duì)測(cè)量結(jié)果造成 影響。
6 濾光片狀態(tài)的影響
在日常大量的分光光度計(jì)檢定工作中,難免會(huì)在濾光片表面留下灰塵和指紋,如果不注意及時(shí)清潔, 將對(duì)檢定結(jié)果造成不可預(yù)計(jì)的影響,尤其對(duì)透射比示 值誤差的影響大。濾光片表面的污垢將直接造成 其實(shí)際透過(guò)率降低,造成檢定結(jié)果不準(zhǔn)確。 輕微的灰塵往往難以查覺(jué),一個(gè)簡(jiǎn)單有效的辦法 是用一個(gè)強(qiáng)光源(手機(jī)LED補(bǔ)光燈)沿表面平行方向 低角度照射濾光片,細(xì)微的灰塵會(huì)將光線散射而被觀 察到,然后使用絨布和氣吹清潔濾光片表面,使之保 持清潔。
7 結(jié)語(yǔ)
影響分光光度計(jì)檢定結(jié)果的因素還有很多,本文 所列是容易被檢定員忽視的因素。只有更加注意檢 定過(guò)程中的影響因素和細(xì)節(jié),才能提高分光光度計(jì)檢 定的水平,從而保證檢定結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。
掃一掃,加微信
版權(quán)所有 © 2019 上海奧析科學(xué)儀器有限公司
備案號(hào):滬ICP備13035263號(hào)-2
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 GoogleSitemap